最直接的鍍膜控製方法是石英晶體微量平衡法(QCM)，這種儀器可以直接（jiē）驅動蒸發源，通過PID控製循環驅動擋板，保持蒸發速率。隻要將儀器（qì）與係統控製軟件相連接，它就可以控製整個的鍍膜（mó）過程。但是(QCM)的精確度是有限的，部分原（yuán）因是由於它監控的（de）是被鍍膜的質量而不是其光學厚度。
    此（cǐ）外（wài）雖然QCM在較低溫度下非常穩定，但溫度較（jiào）高時，它會變得對溫度非常敏（mǐn）感。在長時間的加（jiā）熱過程中，很難阻止傳感器跌入這（zhè）個敏（mǐn）感區域，從而對膜層（céng）造成重大誤差。
    光學監控是高精密鍍膜的的首選監（jiān）控方式，這（zhè）是因為它可以更精確地控製膜層厚度(如果運（yùn）用得當（dāng）)。精（jīng）確度的改進源於很多因素,但最根本的原因是對光學厚度的監控。
    OPTIMAL SWA-I-05單波長光學監控係（xì）統，是采用間接測控，結合汪博士開發的先進光學監控軟件（jiàn），有效提高光學反應（yīng）對膜厚度變化靈敏度的理論和方法來（lái）減少終極誤差，提供了反饋或傳輸的（de）選（xuǎn）擇模式和大範圍的監測波長。特別適合於各種膜（mó）厚的鍍膜監控包括（kuò）非規整膜監控（kòng）。

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